芯片外觀缺陷檢測(cè)
芯片外觀缺陷檢測(cè)
缺陷類(lèi)型:破損、缺角、表面凹坑、臟污、麻點(diǎn)、異物、原件缺失、錯(cuò)位、劃傷;定位等
芯片外觀缺陷檢測(cè)
缺陷類(lèi)型:破損、缺角、表面凹坑、臟污、麻點(diǎn)、異物、原件缺失、錯(cuò)位、劃傷;定位等
相關(guān)資訊
手 機(jī):13510613669
傳 真:0755-25604923-808
郵 箱:quanyi.li@indcam.com
地 址:廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗大道8288號(hào)深圳大運(yùn)軟件小鎮(zhèn)29棟1樓102